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低溫貯存試驗報告有效期限 檢測周期和項目有多少
發(fā)布時間： 2024-12-17 點擊次數： 341次低溫貯存試驗是一種重要的環(huán)境適應性檢驗方法，主要用于評估產品在低溫環(huán)境條件下的貯存性能。在我國，中科檢測作為一家專業(yè)的檢測機構，提供低溫貯存試驗服務，并已獲得CMA(中國計量認證)和CNAS(中國合格評定國家認可委員會)的資質認證。
一、試驗目的
低溫貯存試驗的目的是檢驗產品在低溫環(huán)境條件下的貯存適用性，確保產品在斷電狀態(tài)下，經過低溫環(huán)境貯存后，各項性能指標仍能保持正常，從而為產品在低溫環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性提供有力保障。
二、試驗方法
試驗準備：將被測產品不進行包裝，保持不通電狀態(tài)，以正常使用位置放入試驗箱內。
溫度設置：將試驗箱溫度調整至-20±2℃，待溫度穩(wěn)定后，持續(xù)16小時。
試驗過程：在試驗箱內，被測產品在低溫環(huán)境下持續(xù)貯存16小時。期間，試驗箱溫度需保持穩(wěn)定。
恢復過程：試驗期滿后，將試驗箱門打開，在正常大氣條件下放置2小時，使被測產品逐漸恢復至室溫。
試驗后檢查：放置期滿后，對被測樣機進行試驗后的檢查，觀察產品外觀、結構、性能等方面是否正常。
三、試驗標準
GB/T 32065.3-2015《海洋儀器環(huán)境試驗方法 第3部分：低溫貯存試驗》：該標準規(guī)定了海洋儀器低溫貯存試驗的方法和要求，適用于海洋儀器的低溫貯存性能檢驗。
GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》：該標準適用于電工電子產品低溫環(huán)境試驗，包括低溫貯存試驗。
IEC60068-2-1：2007《電工電子產品環(huán)境試驗：低溫》：該標準為國際電工委員會(IEC)發(fā)布的低溫環(huán)境試驗標準，適用于全球范圍內的電工電子產品。
GJB150.4A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗》：該標準適用于裝備的低溫環(huán)境試驗，包括低溫貯存試驗。
通過以上低溫貯存試驗，可以有效檢驗產品在低溫環(huán)境下的貯存性能，為產品設計、生產和使用提供重要參考依據。中科檢測憑借豐富的試驗經驗和先進的檢測設備，為您提供專業(yè)、可靠的低溫貯存試驗服務。
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